掃描電鏡斷口形貌分析
掃描電鏡表面形貌襯度原理以及應(yīng)用
斷口顯示為冰糖塊或石塊狀；韌窩斷口，邊緣亮、底部暗，有明顯塑性變形跡象；解理斷口，解理臺(tái)階清晰可見；纖維增強(qiáng)復(fù)合材料斷口中，纖維拔出和斷裂痕跡明顯。此外，也用于觀察燒結(jié)體和金相樣品表面的自然形態(tài)，以及材料變形和斷裂過(guò)程的實(shí)時(shí)觀察，如雙相鋼的拉伸斷裂和復(fù)合材料中裂紋的路徑變化。
通過(guò)斷口形貌觀察可以研究材料的哪些性質(zhì)
這類斷口在掃描電鏡下，可以明顯看到一個(gè)又一個(gè)的韌窩（微坑），韌窩周圍的白色脊線稱為撕裂棱。韌窩的形成包含了微孔形成、長(zhǎng)大和連結(jié)等過(guò)程。在每一個(gè)韌窩內(nèi)都含有一個(gè)第二相質(zhì)點(diǎn)或者折斷的夾雜物或者夾雜物顆粒。它們是微孔形成的核心。在加載力的作用下，初始裂紋沿拉伸方向延長(zhǎng)，形成空洞（裂紋擴(kuò)展...
掃描電鏡疲勞斷裂會(huì)看到什么現(xiàn)象
并不能判斷此斷口為非疲勞斷裂，還要根據(jù)宏觀、微觀的其它特征和其它分析工作的結(jié)果加以綜合分析判斷。一般來(lái)說(shuō)，韌性材料容易形成疲勞條帶，脆性材料則比較困難。 通常將疲勞條帶分成韌性疲勞條帶與脆性疲勞條帶。脆性疲勞的特征是斷裂路徑呈放射狀扇形，疲勞條帶被放射臺(tái)階割成短而且平坦的小段。
鋁合金熱裂紋斷口形貌分析
100um的掃描電鏡圖，最后一個(gè)圖中 發(fā)現(xiàn)斷口晶界是由許多較小的韌窩連接而成，為典型的韌窩斷裂；但是局部區(qū)域有顆粒剝落造成的孔洞。因此，判斷合金涂層為混合型斷裂。
TEM(透射電鏡)測(cè)試—掃描電鏡表面形貌襯度原理以及應(yīng)用
1. 斷口分析 1.1 沿晶斷口 普通沿晶斷裂斷口照片顯示，靠近二次電子檢測(cè)器的斷裂面亮度大，背面暗，斷口呈冰糖塊狀或石塊狀。含有Cr、Mo的合金鋼在回火脆性時(shí)發(fā)生沿晶斷裂，其原因是S、P等雜質(zhì)元素在晶界偏聚，導(dǎo)致晶界強(qiáng)度降低，引發(fā)沿晶斷裂。沿晶斷裂為脆性斷裂，斷口上無(wú)塑性變形跡象。1.2 韌窩...
請(qǐng)以鋼鐵材料為例,簡(jiǎn)述掃描電鏡及 電子探針X射線能譜儀在材料組織形 貌...
對(duì)于金屬材料的微觀分析，尤其是斷口失效的觀察，掃描電鏡承擔(dān)了這一重任。在掃描電鏡出現(xiàn)之前，斷口形貌的觀察通常采用透射電鏡復(fù)制技術(shù)，這種方法耗時(shí)費(fèi)力。掃描電鏡能夠直接觀察斷口形貌特征，其分辨率隨著二次電子探測(cè)器的改進(jìn)和成像理論的完善而顯著提升，使得掃描電鏡進(jìn)入了商品化階段。金屬材料的粗糙斷口微觀...
掃描電鏡在鋼鐵業(yè)的作用
在鋼鐵方面的應(yīng)用主要有：斷口分析，就是觀察斷口形貌，根據(jù)形貌分析問(wèn)題。表面觀察，一般用于金相的表面（在大學(xué)里都做過(guò)這方面的實(shí)驗(yàn)），由于其分辨率較高，得的圖片很好。還有可用動(dòng)態(tài)觀察，比如在鋼的變形過(guò)程中觀察M氏體斷裂等等【點(diǎn)擊了解產(chǎn)品詳情】掃描電鏡作為一種顯微分析工具，可以對(duì)金屬材料進(jìn)行多...
如何正確用掃描電鏡?
首先，它可以用于形貌分析，適用于觀察各種微觀形貌，例如斷口樣、金相樣等。只要你想了解材料的微觀結(jié)構(gòu)，掃描電鏡都能提供清晰的圖像。其次，掃描電鏡還具備微區(qū)成分分析的能力。比如，當(dāng)你需要確定金相觀察面上某一相的具體成分時(shí)，或者斷口上有不明夾雜等物質(zhì)時(shí)，微區(qū)成分分析就能提供幫助。因此，使用...
請(qǐng)以鋼鐵材料為例,簡(jiǎn)述掃描電鏡及電子探針X射線能譜儀在材料組織形貌觀...
掃描電鏡在鋼鐵材料分析中扮演著重要角色。利用表面形貌襯度原理，它可以對(duì)鋼鐵材料的斷口進(jìn)行詳細(xì)分析，包括穿晶解理斷口、沿晶斷口、氫脆沿晶斷口以及韌窩斷口，為研究材料斷裂機(jī)理提供直觀的證據(jù)。此外，掃描電鏡還能用于鋼鐵材料樣品表面形貌的細(xì)致觀察，幫助識(shí)別材料表面微觀結(jié)構(gòu)特征。金相組織觀察分析也是掃描...
掃描電鏡是用來(lái)測(cè)什么的
掃描電鏡所顯示的斷口形貌從深層次，高景深的角度呈現(xiàn)材料斷裂的本質(zhì)，在教學(xué)、科研和生產(chǎn)中，有不可替代的作用，在材料斷裂原因的分析、事故原因的分析以及工藝合理性的判定等方面是一個(gè)強(qiáng)有力的手段。直接觀察原始表面 它能夠直接觀察直徑100mm，高50mm，或更大尺寸的試樣，對(duì)試樣的形狀沒有任何限制，...
比風(fēng)13014463434咨詢： 如何判斷扭簧是脆斷的呢 -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ 扭簧斷裂對(duì)應(yīng)件的宏觀斷口形態(tài)均呈現(xiàn)累次狀,斷口邊緣有極淺的剪切唇,兩個(gè)斷口面平直,說(shuō)明扭轉(zhuǎn)彈簧在斷裂時(shí)塑性變形極小;另外從兩個(gè)斷口面上的放射狀形態(tài)指向上看,斷裂源均在扭轉(zhuǎn)彈簧內(nèi)徑表面處,其在斷口上的相對(duì)位置相匹配,...
比風(fēng)13014463434咨詢： 【求助】如何判斷斷裂方式 -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ Shine9083(站內(nèi)聯(lián)系TA)在掃描電鏡下看斷口組織,很容易能發(fā)現(xiàn)脆性斷裂和韌性斷裂的的區(qū)別,甚至能找出和文獻(xiàn)中相似的圖像,當(dāng)然是指組織結(jié)構(gòu)xzldxs(站內(nèi)聯(lián)系TA)其實(shí)挺復(fù)雜的,你可以看看斷口學(xué)等方面的書,里面有詳細(xì)...
比風(fēng)13014463434咨詢： 請(qǐng)大家分析下這是是類型的斷口,是氫脆、過(guò)燒、還是酸洗過(guò)度?或則材料偏析 -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ 斷口分析不是這樣玩的! 這是僅憑肉眼觀察,所得到的信息,不可能判斷你所想要知道的是否是氫脆、過(guò)燒等等.那是需要在掃描電鏡下觀察微觀特征,再加上其它輔助分析手段,如金相、硬度、工藝過(guò)程分析等等,才有可能得出結(jié)論. 你所給出的宏觀斷口只能說(shuō)它是脆性斷口,斷面絕大部分有銹蝕,應(yīng)該是原始裂紋,少量銀亮色斷口應(yīng)該是后斷部分.至于原始裂紋的原因,僅從宏觀斷口分析,無(wú)從談起.如果你確實(shí)有需要分析,先提供零件的材料、工藝過(guò)程再說(shuō)吧.
比風(fēng)13014463434咨詢： 二次電子掃描像為什么可以反映樣品表面或者斷面的形貌信息, -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ 你說(shuō)的是SEM電鏡吧,這主要是它的成像原理導(dǎo)致的其可以反映樣品表面或者斷面的形貌信息.SEM的工作原理為:從電子槍陰極發(fā)出的直徑20(m~30(m的電子束,受到陰陽(yáng)極之間加速電壓的作用,射向鏡筒,經(jīng)過(guò)聚光鏡及物鏡的會(huì)聚作用,縮小成直徑約幾毫微米的電子探針.在物鏡上部的掃描線圈的作用下,電子探針在樣品表面作光柵狀掃描并且激發(fā)出多種電子信號(hào).這些電子信號(hào)被相應(yīng)的檢測(cè)器檢測(cè),經(jīng)過(guò)放大、轉(zhuǎn)換,變成電壓信號(hào),最后被送到顯像管的柵極上并且調(diào)制顯像管的亮度.顯像管中的電子束在熒光屏上也作光柵狀掃描,并且這種掃描運(yùn)動(dòng)與樣品表面的電子束的掃描運(yùn)動(dòng)嚴(yán)格同步,這樣即獲得襯度與所接收信號(hào)強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的掃描電子像,這種圖象反映了樣品表面的形貌特征.
比風(fēng)13014463434咨詢： 界面的金屬界面 -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ 金屬系統(tǒng)中的界面不外乎五種,即氣-液、氣-固、液-液、液-固,固-固.例如,冶金爐內(nèi)液體金屬和大氣之間是氣-液界面,在液態(tài)金屬凝固過(guò)程中,已凝固晶體和未凝固液體之間是固- 液界面;固體金屬開裂過(guò)程中,裂紋表面就是固-氣界面.對(duì)...
比風(fēng)13014463434咨詢： 掃描電鏡圖該怎么分析? -
法庫(kù)縣錐距回復(fù)：
______ 第一、掃描電鏡照片是灰度圖像,分為二次電子像和背散射電子像,主要用于表面微觀形貌觀察或者表面元素分布觀察. 一般二次電子像主要反映樣品表面微觀形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情況需要對(duì)比分析. 背散射電子像主要反映樣品表面元素分布情況,越亮的區(qū)域,原子序數(shù)越高. 第二、看表面形貌,電子成像,亮的區(qū)域高,暗的區(qū)域低.非常薄的薄膜,背散射電子會(huì)造成假像.導(dǎo)電性差時(shí),電子積聚也會(huì)造成假像.
